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低對(duì)比度測試卡
低對(duì)比度模體此模體包含有一組直徑為1cm孔徑（共21個(gè)圓孔）的鋁制圓形盤構(gòu)成。如果使用 塊衰減體模提供在自動(dòng)曝光控制下使X射線衰減和硬化，使這些圓盤產(chǎn)生X射線輻射的對(duì)比度從0.8%到20%的變化，一個(gè)圓盤的所產(chǎn)生一級(jí)近似對(duì)比度如下：0.8%1096、1.496、18%、2.0%、2.3%、2.796、3.3%、3.9%、4.0%64.5%、5.5%6.696 7.6%、8.6%、10.8%、12.3%、14.5%、16.0%、18.0%、20.0%。
低對(duì)比度測試卡，測試卡由20mm厚的鋁板制成。
在該鋁板上均布lcm孔徑圓孔，孔的深度（mm）及對(duì)比度（括號(hào)內(nèi)數(shù)值96）0.07mm（03596）到32mm（16%）變化共計(jì)19個(gè)圓孔。它們分別是：
0.07(0.35%)、0.11(0.55%)0.15(0.75%)019(0.95)022(1196)0.26(1.3%)0.32(1.6%)、0.36(1.8%)0.44(22%)052(26%)088(44%06(53%)3668%)148(74%)176(8.8%)214(107%)2.5(12.596)2.9(14.5%)、32(16%)
